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一种CMOS带隙基准电压源设计

时间:2022-03-22 09:05:28 来源:网友投稿

摘 要:为了满足IC设计中对基准电源低功耗、低温度系数、高电源抑制比的要求,设计一种带隙基准电压源电路。在对传统带隙基准结构分析的基础上,该电路重点改善基准源中运算放大器的性能,采用台积电0.35μm CMOS工艺库设计并绘制版图。仿真结果表明,温度在0~100℃之间变化时,该电路输出电压的温度系数小于10 ppm/℃,并且具有低功耗、高电源抑制比的特性。

关键词:CMOS带隙基准;低温度系数;电源抑制比

中图分类号:TN710

文献标识码:B

文章编号:1004—373X(2008)04—004—02

1 引 言

基准电压源广泛应用于电源调节器、A/D和D/A转换器、数据采集系统,以及各种测量设备,其精度和稳定性直接影响整个电路系统的精度和稳定性。基准源有很多种,其中,带隙基准源凭借其低温度系数、高电源抑制比、低基准电压,以及长期稳定等优点,得到了广泛的应用。近年来,模拟集成电路设计技术随着工艺技术一起得到了飞速的发展,电路系统结构进一步复杂化。这对模拟电路基本模块的电压、功耗、精度和速度等,提出了更高的要求。传统的带隙基准源电路结构逐渐难以适应设计需求。本文在分析传统带隙基准原理基础上,基于传统的带隙基准结构,重点改善基准源中运算放大器的性能,并对基准绝对数值进行补偿,设计了一种低温漂、高电源抑制比的基准电压源电路。该电路带有启动电路和电流补偿电路,采用差分放大器作为基准源的负反馈运放,放大器的偏置电流由放大器自身的输出产生,提高了电源抑制比,直接对基准输出做温度补偿和电流漂移补偿,静态电流约为10μA,温度在0~100℃之间变化时温度漂移不超过10 ppm/℃。

图2为传统带隙基准源的基本结构,这种结构对放大器精度和对称性要求较高,另外运放的失调电压会影响基准源的精度。失调电压与温度和电源电压有关,是基准源理论值与实际值之间误差的主要来源。失调电压的主要来源于晶体管之间不匹配、运放输入级MOS管预置电压不匹配、运放的有限增益等。针对上述问题,本文提出一种带隙结构,重点改善基准源中运算放大器的性能,其中为了减小运放失调电压对基准源的影响,采用差分运放、提高运放增益、加入反馈减小失调电压,从而提高电压基准源的精度,并对基准绝对数值进行补偿,设计一种低温漂、高电源抑制比的基准电压源电路。

3 电路设计及工作原理

如图3所示,带隙基准源电路带有启动电路和反馈电路,采用差分放大器作为基准源的负反馈运放,放大器的偏置电流由放大器自身的输出产生,直接对基准源输出做温度漂移补偿,提高了电源抑制比。

由式(6)可见,环境温度在0~100℃之间变化时,该电路输出电压温度系数小于10 ppm/℃。

5 结 语

本文根据当前集成电路设计中对基准电源的低压、低功耗、高电源抑制比的要求,利用不同电流密度下两晶体管基极一发射极电压差的正温度特性,结合基极一发射极电压本身的负温度特性,设计了一个带隙基准电压源。该电路结构比较新颖,巧妙地减小了运算放大器输入失调对基准电压的影响。经仿真分析表明,该电路静态功耗小,温度系数低,高电源抑制比,适应现代集成电路的发展趋势。

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